特許
J-GLOBAL ID：200903084078438678
粒度分布測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
河▲崎▼ 眞樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-064365
公開番号（公開出願番号）：特開2006-250576
出願日： 2005年03月08日
公開日（公表日）： 2006年09月21日
要約：
【課題】 静電気を帯びやすい被測定粒子群を乾式測定したときに、被測定粒子群が装置内部等に付着したり相互に凝集することを防止し、その取扱いの困難性を無くすると同時に、測定の正確さや安定性、再現性を向上させることのできるレーザ回折・散乱式粒度測定装置を提供する。【解決手段】 試料保持部6に保持された被測定粒子群Pを、噴射供給機構7より吸引して分散媒となる気体と共に測定空間3に噴射し、その測定空間3にレーザ光を照射して得られる回折・散乱光の空間強度分布を測定して粒度分布に換算する装置において、試料保持部6上の被測定粒子群Pに対してその帯電極性と逆極性のイオンを照射するイオン発生手段91を設け、そのイオンと共に被測定粒子群Pを吸引して噴射することで、被測定粒子群Pの帯電を中和し、装置への付着等を防止してその取扱い性と測定の安定性・再現性を向上させる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
測定空間にレーザ光を照射する照射光学系と、測定空間内に導かれた被測定粒子群によるレーザ光の回折・散乱光の空間強度分布を測定する測定光学系と、その測定された回折・散乱光の空間強度分布から被測定粒子群の粒度分布を算出する演算手段を備えるとともに、試料保持部に保持されている被測定粒子群を吸引して、分散媒となる気体と共に上記測定空間に噴射する試料噴射供給手段を備えたレーザ回折・散乱式粒度分布測定装置において、
上記試料保持部に保持されている被測定粒子群に対して当該被測定試料群の帯電極性と逆極性のイオンを照射するイオン発生手段を備え、そのイオン発生手段から発生したイオンを被測定粒子群と共に吸引して上記測定空間に噴射するように構成されていることを特徴とするレーザ回折・散乱式粒度分布測定装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
出願人引用 (8件)
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審査官引用 (8件)
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