特許
J-GLOBAL ID:201103054794885687

InSb膜の形成方法及びInSb膜を用いたホール素子の製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-050206
公開番号(公開出願番号):特開2000-248359
特許番号:特許第3664368号
出願日: 1999年02月26日
公開日(公表日): 2000年09月12日
請求項(抜粋):
【請求項1】 予め非晶質の下地膜が形成された基板を20°C乃至150°Cの範囲の温度にし、 真空蒸着法により、前記下地膜上に所定厚さのSb膜を形成した後、前記Sb膜の厚さに対して化学量論組成が成立する範囲の厚さでIn膜を形成する工程と、 その後、前記基板を350°C乃至500°Cの範囲の温度にし、 前記Sb膜と前記In膜とを反応させて第1のInSb膜を形成すると共に真空蒸着法によりSb及びInを同時に蒸着することで前記第1のInSb膜上に第2のInSb膜を形成する工程とを有すること特徴とするInSb膜の製造方法。
IPC (5件):
C23C 14/24 ,  C23C 14/06 ,  C23C 14/14 ,  C23C 14/58 ,  H01L 21/203
FI (5件):
C23C 14/24 N ,  C23C 14/06 N ,  C23C 14/14 D ,  C23C 14/58 A ,  H01L 21/203 Z
引用特許:
審査官引用 (3件)

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