半導体装置の信号発生回路

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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：大塚康徳 , 松本研一
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-240337
公開番号（公開出願番号）：特開2000-306398
特許番号：特許第3569863号
出願日： 1999年08月26日
公開日（公表日）： 2000年11月02日
請求項（抜粋）：

【請求項1】n個のピンから各々入力される第1レベル、又は、前記第1レベルよりも大きい第2レベル、又は、前記第2レベルよりも大きいM種類のレベルのいずれかのレベルを採り得る高電圧レベルの信号をバッファリングして、第1レベル又は第2レベルの第1信号と、第1レベル又は第2レベルの信号のうち前記第1信号と異なるレベルの第2信号を各々発生するn個のバッファと、前記n個のピンのうち第1ピンから入力される高電圧を感知して正常モードとテストモードとを区別するためのモード設定信号を発生するモード設定信号発生手段と、前記n個のピンのうち第2から第nピンから各々入力される前記高電圧レベルの信号を各々感知してM個の高電圧検出信号を各々発生するための(n-1)個高電圧検出手段と、前記第2から第nピンに各々連結された(n-1)個のバッファから各々出力される前記第1及び第2信号と、前記第2から第nピンに各々連結された前記(n-1)個の高電圧検出手段から各々出力されるM個の前記高電圧検出信号とを各々スクランブリングして(2+M)個の出力信号を各々発生するための(n-1)個のスクランブル手段と、を具備することを特徴とする半導体装置の信号発生回路。

IPC (5件)：

G11C 29/00 , G01R 31/28 , G01R 31/3185 , G11C 11/401 , G11C 11/413

FI (5件)：

G11C 29/00 671 T , G01R 31/28 W , G11C 11/34 341 D , G11C 11/34 371 K , G11C 11/34 371 A

引用特許：

出願人引用 (5件)

特開平2-003145
特開平3-003189
特開平3-046193

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