特許
J-GLOBAL ID:201103057114226799

電気光学パネル、電気光学パネルの検査方法および電子機器

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 上柳 雅誉 ,  須澤 修
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-224329
公開番号(公開出願番号):特開2001-051655
特許番号:特許第3726575号
出願日: 1999年08月06日
公開日(公表日): 2001年02月23日
請求項(抜粋):
【請求項1】 複数の走査線と、複数のデータ線と、前記走査線と前記データ線とに接続されるスイッチング素子と、前記スイッチング素子に接続された蓄積容量とを有する電気光学パネルであって、 開始パルスをクロック信号に従って順次転送することによって、各タイミング信号を発生するシフト手段と、 入力画像データを前記各タイミング信号に従ってラッチする第1ラッチ手段と、 前記第1ラッチ手段の各出力信号を水平走査期間毎にラッチする第2ラッチ手段と、 1本以上の電源ラインを有し、通常時において、前記1本以上の電源ラインに給電される電圧と前記第2ラッチ手段の出力信号とに基づいて前記各データ線に前記入力画像データに応じた各データ線信号を供給する一方、検査時において、前記各タイミング信号に基づいて前記1本以上の電源ラインと前記各データ線とを順次接続することによって、前記1本以上の電源ラインから、前記データ線の電圧を読み出す検査機能付D/A変換手段と を備えたことを特徴とする電気光学パネル。
IPC (3件):
G09G 3/36 ,  G02F 1/133 ,  G09G 3/20
FI (4件):
G09G 3/36 ,  G02F 1/133 550 ,  G09G 3/20 621 Z ,  G09G 3/20 670 Q
引用特許:
出願人引用 (4件)
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