特許
J-GLOBAL ID:201103057325477151
半導体装置およびその製造方法ならびに電子機器
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
上柳 雅誉
, 須澤 修
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-026601
公開番号(公開出願番号):特開2001-217386
特許番号:特許第3684978号
出願日: 2000年02月03日
公開日(公表日): 2001年08月10日
請求項(抜粋):
【請求項1】 半導体チップを複数個積層してなる半導体装置の製造方法において、 複数個積層された前記半導体チップに貫通孔を形成する工程と、 前記貫通孔の内周に絶縁膜を形成する工程と、 前記絶縁膜上に第1の金属の膜を形成する工程と、 前記第1の金属の膜上に第2の金属の膜を形成する工程と、 前記第1の金属と前記第2の金属との共晶合金を、前記貫通孔を残して形成する工程とを有することを特徴とする半導体装置の製造方法。
IPC (4件):
H01L 25/065
, H01L 23/52
, H01L 25/07
, H01L 25/18
FI (2件):
H01L 25/08 Z
, H01L 23/52 C
引用特許:
出願人引用 (3件)
-
半導体装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-052205
出願人:ローム株式会社
-
LSIモジュールとその製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-319466
出願人:日本電気株式会社
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半導体装置の製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-194711
出願人:三菱電機株式会社
審査官引用 (3件)
-
半導体装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-052205
出願人:ローム株式会社
-
LSIモジュールとその製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-319466
出願人:日本電気株式会社
-
半導体装置の製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-194711
出願人:三菱電機株式会社
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