特許
J-GLOBAL ID:201103058019283870

軸受検査方法

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-320311
公開番号(公開出願番号):特開2002-131187
特許番号:特許第4674395号
出願日: 2000年10月20日
公開日(公表日): 2002年05月09日
請求項(抜粋):
【請求項1】 同軸状態に配置された軸要素および軸受要素が所定の相対回転数以上において非接触状態に保持される軸受において、前記軸要素と前記軸受要素が接触回転状態にあるか否かを検査するための軸受検査方法であって、前記軸要素および前記軸受要素を相対回転させ、前記軸要素および前記軸受要素の相対回転数を変化させながら、相対回転状態におけるこれら軸要素および軸受要素間のインピーダンス変化を検出し、前記インピーダンス変化に基づき、前記軸要素と前記軸受要素が接触回転状態に切り換わった時点、あるいは、これらが非接触回転状態から接触回転状態に切り換わった時点の相対回転数を検出することを特徴とする軸受検査方法。
IPC (3件):
G01M 13/04 ( 200 6.01) ,  F16C 17/10 ( 200 6.01) ,  H02K 11/00 ( 200 6.01)
FI (3件):
G01M 13/04 ,  F16C 17/10 A ,  H02K 11/00 Q
引用特許:
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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