特許
J-GLOBAL ID:201103058919576741
パルス化されかつ光学的刺激化されたルミネセンスを用いた異常放射暴露の検出のためのシステム及び方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (6件):
社本 一夫
, 今井 庄亮
, 増井 忠弐
, 栗田 忠彦
, 小林 泰
, 田中 英夫
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-555110
特許番号:特許第4036614号
出願日: 1999年06月09日
請求項(抜粋):
【請求項1】 発光性放射検出器の静的暴露と動的暴露とを客観的に区別する方法であって、前記発光性放射検出器が発光材料の少なくとも1つの層から成り、前記発光材料が放射被着のパターンを記憶することができる、方法において、
(a) 放射を前記発光性放射検出器上に吸収フィルタを介して入射させて、放射被着の空間的周期パターンを前記発光材料内に得るステップであって、
(a1) 前記吸収フィルタは、高い放射吸収領域と低い放射吸収領域とを有し、
(a2) 前記高い放射吸収領域と低い放射吸収領域は一緒で空間的周期パターンを形成する、
前記生成するステップと、
(b) 前記発光材料からの少なくとも1つのルミネセンス放出を誘発するステップであって、前記少なくとも1つのルミネセンス放出が前記放射被着の空間的周期パターンを表す、前記誘発するステップと、
(c) 前記少なくとも1つのルミネセンス放出のうちの少なくとも1つの空間的分布を数値解析して、放射暴露が静的であったか又は動的であったかを客観的に評価するステップと
を備える方法。
IPC (1件):
FI (1件):
引用特許: