特許
J-GLOBAL ID:201103059478862677

表面プラズモン共鳴測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 柳田 征史 ,  佐久間 剛
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-379897
公開番号(公開出願番号):特開2002-181700
特許番号:特許第4173628号
出願日: 2000年12月14日
公開日(公表日): 2002年06月26日
請求項(抜粋):
【請求項1】 誘電体ブロックと、 この誘電体ブロックの一面に形成されて、試料に接触させられる金属膜と、 互いに異なる2つ以上の波長の光ビームの各々を発する、併設された複数の光源と、 前記2つ以上の波長の光ビームを、前記誘電体ブロックと金属膜との界面に対して、全反射条件が得られる固定の入射角で、誘電体ブロック側から前記界面の同一位置に入射させる入射光学系と、 前記界面で全反射した光ビームの強度を各波長毎に測定する光検出手段と、 該光検出手段が出力する、互いに異なる2つの波長の光ビームについての光検出信号の差分を求める演算手段とからなる表面プラズモン共鳴測定装置において、 前記光源が、前記2つ以上の波長の光ビームを互いに時間間隔をおいて射出するように構成され、 前記入射光学系が、前記2つ以上の波長の光ビームを前記界面に対して、共通の入射角で入射させるように構成され、 前記光検出手段が、前記光源の光ビーム射出タイミングと同期したタイミングで検出動作することにより、前記光ビームの強度を各波長毎に測定する1つの光検出器から構成されていることを特徴とする表面プラズモン共鳴測定装置。
IPC (1件):
G01N 21/27 ( 200 6.01)
FI (1件):
G01N 21/27 C
引用特許:
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (5件)
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引用文献:
出願人引用 (1件) 審査官引用 (1件)

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