特許

J-GLOBAL ID：201103063862141267

画像処理装置及び方法

発明者： 杉本 和英 ,  富田 文明
出願人/特許権者： 三洋電機株式会社 ,  独立行政法人産業技術総合研究所
代理人 (4件)： 吉田 研二 ,  石田 純 ,  吉田 研二 ,  石田 純
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-368148
公開番号（公開出願番号）：特開2001-184512
特許番号：特許第3638845号
出願日： 1999年12月24日
公開日（公表日）： 2001年07月06日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 画像内の物体を抽出する画像処理装置であって、 原画像の輝度を2階空間微分する微分手段と、 前記2階空間微分値が実質的に0の領域をグループ化して前記物体の陰影領域を抽出する陰影領域抽出手段と、 前記原画像内の前記物体のステップエッジを抽出するエッジ抽出手段と、 前記ステップエッジと前記陰影領域の境界を統合する統合手段と、 を有し、前記微分手段は、前記原画像の輝度の空間微分値が0でない領域のみを処理対象としてさらに空間微分することにより前記2階空間微分を行うものであり、かつ、前記エッジ抽出手段で抽出された前記物体の前記ステップエッジが閉曲線を構成しておらず欠落している場合に、該欠落部分に処理ウィンドウを設定し該処理ウィンドウ内において前記2階空間微分することを特徴とする画像処理装置。

IPC (1件)：

G06T 7/60

FI (1件)：

G06T 7/60 250 A

引用特許：

審査官引用 (5件)

• 画像処理における形状認識方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-352267   出願人：ソニー株式会社
• 画像解析方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-234148   出願人：工業技術院長, スタンレー電気株式会社
• 特開昭63-155274
  
• エッジ検出方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-032999   出願人：松下電工株式会社
• 特開昭63-019087