特許
J-GLOBAL ID：201103066983502967

コンデンサのスクリーニング方法

発明者：
西山 茂紀

西山 茂紀 について

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安積 健

安積 健 について

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中祖 一朗

中祖 一朗 について


出願人/特許権者：
株式会社村田製作所

株式会社村田製作所 について


代理人 (1件)： 中野 雅房
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-323172
公開番号（公開出願番号）：特開2003-130902
特許番号：特許第4126895号
出願日： 2001年10月22日
公開日（公表日）： 2003年05月08日
請求項（抜粋）：
【請求項1】被測定のコンデンサに直流電源発生手段からの直流電流を第1の電流測定手段を介して流すように閉回路を形成する直流経路と、前記被測定のコンデンサに交流電源発生手段からの交流電流を第2の電流測定手段を介して流すように閉回路を形成する交流経路と、前記被測定のコンデンサの電圧を測定する電圧測定手段とを備え、 前記直流経路が、前記直流電源発生手段と、前記第1の電流測定手段と、交流阻止手段と前記被測定のコンデンサとを含む閉回路で構成され、 前記交流経路が、前記交流電源発生手段と、前記第2の電流測定手段と、直流阻止手段と、前記被測定のコンデンサとを含む閉回路で構成されたバイアス印加回路を用いて前記被測定のコンデンサの良否を判別するコンデンサのスクリーニング方法であって、 前記被測定のコンデンサに前記直流電源発生手段からの直流電圧を印加して一定時間充電し、次いで前記直流電圧に重複して前記交流電源発生手段からの交流電圧を前記被測定のコンデンサに印加することにより、前記被測定のコンデンサの直流電圧下の静電容量に対する電流の比が0.1Arms/μF以上となるように前記被測定のコンデンサにリップル電流を流し、前記第1の電流測定手段と前記第2の電流測定手段と前記電圧測定手段の各測定結果に基づいて前記被測定のコンデンサの示す電気的特性を含むパラメータを測定し、前記被測定のコンデンサの良否を判別することを特徴とするコンデンサのスクリーニング方法。
IPC (4件)：
G01R 27/26 ( 200 6.01) ,  G01R 27/02 ( 200 6.01) ,  G01R 31/00 ( 200 6.01) ,  H01G 13/00 ( 200 6.01)
FI (5件)：
G01R 27/26 C ,  G01R 27/26 T ,  G01R 27/02 R ,  G01R 31/00 ,  H01G 13/00 361 A
引用特許：
出願人引用 (12件)
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審査官引用 (12件)
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