特許

J-GLOBAL ID：201103068396600614

バーンインテスト方法

発明者： 前崎 義博 ,  勅使河原 寛
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 横山 淳一
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-165102
公開番号（公開出願番号）：特開2002-357644
特許番号：特許第3674542号
出願日： 2001年05月31日
公開日（公表日）： 2002年12月13日
請求項（抜粋）：

【請求項1】被試験対象物を複数個まとめてテストするバーンインテスト方法であって、 環境温度を高温状態として、所定時間、被試験対象物を複数同時動作させ、 環境温度を常温として、被試験対象物個々にテストパターンを書き込み読み出して、期待値パターンとの比較を行い良否を判定することを特徴とするバーンインテスト方法。

IPC (3件)：

G01R 31/30 ,  G01R 31/26 ,  G01R 31/28

FI (3件)：

G01R 31/30 ,  G01R 31/26 H ,  G01R 31/28 B

引用特許：

審査官引用 (3件)

• テスト機能を有する集積回路
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-009153   出願人：シャープ株式会社
• メモリICテストシステム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-309197   出願人：安藤電気株式会社
• 半導体試験装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-131597   出願人：三菱電機株式会社