特許

J-GLOBAL ID：201103070567992707

光計測装置、シンチレーションカウンタ、パーティクルカウンタ、光計測方法、シンチレーション計数方法及び粒子計数方法

発明者： 須山 本比呂 ,  河合 克彦 ,  森田 哲家 ,  大庭 弘一郎
出願人/特許権者： 浜松ホトニクス株式会社
代理人 (3件)： 長谷川 芳樹 ,  塩田 辰也 ,  寺崎 史朗
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-083839
公開番号（公開出願番号）：特開2000-275102
特許番号：特許第4040789号
出願日： 1999年03月26日
公開日（公表日）： 2000年10月06日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 入射した光束の光量に応じた光電子を放出し、該光電子の数に応じた出力信号を出力する光検出手段と、 前記出力信号と所定のしきい値とを比較し、前記出力信号が前記しきい値よりも大きい場合にのみ前記出力信号を出力する比較手段と、 前記しきい値を設定する設定手段と を備え、 前記設定手段は、光が入射しないダーク状態における前記光検出手段の出力信号の波高分布のピーク値を測定し、該ピーク値を前記光検出手段により放出される前記光電子が1つである場合の前記出力信号として求めると共に、該ピーク値を2倍した値を前記光検出手段により放出される前記光電子が2つである場合の前記出力信号として求め、前記光検出手段により放出される前記光電子が1つである場合の前記出力信号より大きい値であって、且つ、前記光検出手段により放出される前記光電子が2つである場合の前記出力信号より小さい値を前記しきい値として設定する ことを特徴とする光計測装置。

IPC (4件)：

G01J 1/42 ( 200 6.01) ,  G01N 1/02 ( 200 6.01) ,  G01N 15/14 ( 200 6.01) ,  G01N 21/64 ( 200 6.01)

FI (4件)：

G01J 1/42 H ,  G01N 1/02 ,  G01N 15/14 D ,  G01N 21/64 Z

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 測光装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-146220   出願人：株式会社分子バイオホトニクス研究所
• 光波形計測装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-195907   出願人：浜松ホトニクス株式会社
• 特開昭63-198830
  
• 微粒子計測方法及び微粒子を使用した定量方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-231470   出願人：株式会社日立製作所