クロマトグラフ質量分析計

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：小林良平
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-001745
公開番号（公開出願番号）：特開2000-206103
特許番号：特許第3867426号
出願日： 1999年01月07日
公開日（公表日）： 2000年07月28日
請求項（抜粋）：

【請求項1】質量分析部のイオン検出器の出力信号を処理することにより得られる原マススペクトルからクロマトグラフ部で移動相として用いられる物質に起因するイオンのマススペクトルを減算することにより得られる差分マススペクトルを用いてクロマトグラムを作成するクロマトグラム作成手段を備えたクロマトグラフ質量分析計であって、 a) クロマトグラフ部で移動相として用いられる各種物質のマススペクトルデータを記憶した記憶手段と、 b) 実際の測定において移動相として選択された物質を特定するための移動相特定手段とを備え、前記クロマトグラム作成手段は、前記移動相特定手段により特定された物質のマススペクトルデータを前記記憶手段から読み出し、該データから得られるマススペクトルを前記原マススペクトルから減算することにより前記差分マススペクトルを導出することを特徴とするクロマトグラフ質量分析計。

IPC (3件)：

G01N 30/86 ( 200 6.01) , G01N 27/62 ( 200 6.01) , G01N 30/72 ( 200 6.01)

FI (4件)：

G01N 30/86 L , G01N 30/86 H , G01N 27/62 X , G01N 30/72 C

引用特許：

審査官引用 (6件)

クロマトグラフの吸光分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-186792 出願人：株式会社島津製作所
特開昭61-260149
特開昭62-172261

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