特許
J-GLOBAL ID：201103072397917139

粒子分析装置

発明者：
小篠 正継

小篠 正継 について


出願人/特許権者：
シスメックス株式会社

シスメックス株式会社 について


代理人 (1件)： 特許業務法人サンクレスト国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-251377
公開番号（公開出願番号）：特開2011-095181
出願日： 2009年10月30日
公開日（公表日）： 2011年05月12日
要約：
【課題】光ファイバーを用いて干渉縞の発生を抑制しつつ、スペックルノイズの発生をも抑制する。【解決手段】本発明の粒子分析装置は、光を発する光源66と、複数本の光ファイバー70aからなり、前記光源からの光が入射されるとともに粒子を含む試料流に対して光を出射する光ファイバー束70と、光が照射された試料流中の粒子を撮像する撮像器65と、を備える。【選択図】 図3
請求項（抜粋）：
光源と、 複数本の光ファイバーからなり、前記光源からの光が入射されるとともに粒子を含む試料流に対して光を出射する光ファイバー束と、 光が照射された試料流中の粒子を撮像する撮像器と、を備えている粒子分析装置。
IPC (2件)：
G01N 15/14 ,  G01N 21/17
FI (2件)：
G01N15/14 D ,  G01N21/17 A
Fターム (21件)：
2G059AA01 ,  2G059AA05 ,  2G059BB14 ,  2G059CC16 ,  2G059DD04 ,  2G059DD05 ,  2G059EE01 ,  2G059EE07 ,  2G059FF01 ,  2G059GG01 ,  2G059GG08 ,  2G059HH02 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM04 ,  2G059MM06 ,  2G059MM09
引用特許：
審査官引用 (6件)
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