特許
J-GLOBAL ID:201103073436082380

DNA検査方法及びその装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 井上 学
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-292783
公開番号(公開出願番号):特開2003-098087
特許番号:特許第3858650号
出願日: 2001年09月26日
公開日(公表日): 2003年04月03日
請求項(抜粋):
【請求項1】蛍光標識されたDNAを付着させた蛍光ビーズ又は蛍光ドットを1次元もしくは2次元状に配列した試料に励起光を照射し、該励起光の照射により前記試料から発生する蛍光を検出して該検出した蛍光の情報に基づいて前記蛍光標識されたDNAを検査する方法であって、前記試料を一方向に連続的に移動させ、複数のスポット状励起光をそれぞれ前記連続的に移動している試料の複数の蛍光ビーズ又は蛍光ドットに照射し、前記試料が前記配列の1ピッチ分移動する間前記複数のスポット状励起光がそれぞれ前記試料の複数の蛍光ビーズ又は蛍光ドットを照射し続けるように光偏向器で前記複数のスポット状励起光を追尾駆動し、前記試料が前記配列の1ピッチ分移動したときに前記複数のスポット状励起光を前記光偏向器で前記一方向と反対の方向に前記一方向への移動よりも速い速度で走査して前記複数のスポット状励起光を前記試料上で前記配列の1ピッチずれた位置の複数の蛍光ビーズ又は蛍光ドットに照射することにより、前記試料が前記配列の1ピッチ分の相対走査に要する時間の半分以上の時間で前記複数のスポット状励起光を前記試料の複数の蛍光ビーズ又は蛍光ドットに順次照射することを特徴とするDNA検査方法。
IPC (1件):
G01N 21/64 ( 200 6.01)
FI (1件):
G01N 21/64 F
引用特許:
審査官引用 (7件)
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