特許
J-GLOBAL ID：201103074320880090
不揮発性半導体記憶装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
横山 淳一
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-210843
公開番号（公開出願番号）：特開2001-035172
特許番号：特許第3755346号
出願日： 1999年07月26日
公開日（公表日）： 2001年02月09日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 ワード線の選択に応じて複数のメモリセルに一度に書き込まれるデータをN個(Nは所要の自然数)に分割して格納するバッファ群と、その分割されたN個の単位毎に該メモリセルが適正に書き込まれたか否かを検証する検証回路と、該N個の検証結果を保持する回路と、該保持された検証結果を外部に出力する回路とを有することを特徴とする不揮発性半導体記憶装置。
IPC (2件)：
G11C 16/02 ( 200 6.01)
, G01R 31/28 ( 200 6.01)
G11C 17/00 601 T
, G01R 31/28 B
