特許
J-GLOBAL ID:201103076456803598
X線検査装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
,
代理人 (1件):
小野 由己男 (外2名)
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-335213
公開番号(公開出願番号):特開2002-098652
特許番号:特許第3511505号
出願日: 2000年09月26日
公開日(公表日): 2002年04月05日
請求項(抜粋):
【請求項1】連続搬送される物品の画像データをX線源及びX線ラインセンサにより得て、その得られた画像データによって物品の状態を検査するX線検査装置であって、連続搬送される物品の画像データから物品不良を判断する不良判断手段と、前記不良判断手段によって不良と判断された複数の物品それぞれの前記画像データを自動的に記憶部に記憶させる画像データ記憶手段と、物品を正規の搬送経路から不良品貯留部へと振り分ける振分機構と、前記不良判断手段が物品不良と判断した物品を振り分けるように前記振分機構に振分指示を送る振分制御手段と、前記記憶部に記憶された前記複数の物品の画像データを画面表示する表示部と、を備え、前記画像データ記憶手段は、前記複数の画像データを、前記振分制御手段が振分指示を送った順番に記憶部に記憶させ、前記振分機構は、前記振分制御手段が振分指示を送った順番に、振り分けられた物品の姿勢が前記表示部に表示される前記画像データにおける物品の姿勢と一致するように、物品を振り分け、前記表示部は、前記振分制御手段が振分指示を送った順番に画像データを画面表示する、X線検査装置。
IPC (1件):
FI (1件):
引用特許:
審査官引用 (7件)
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X線検査装置およびX線検査補修装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-097796
出願人:株式会社東芝
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X線荷物検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-345606
出願人:株式会社日立メディコ
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放射線検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-108052
出願人:東芝エフエーシステムエンジニアリング株式会社
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X線異物検出装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-292136
出願人:株式会社イシダ
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特開平1-250856
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欠陥検出装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-280980
出願人:東芝エンジニアリング株式会社
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表面欠陥検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-240118
出願人:住友金属工業株式会社
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