特許
J-GLOBAL ID:201103077945010360

光学装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 篠原 泰司 ,  藤中 雅之
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-088580
公開番号(公開出願番号):特開2001-272603
特許番号:特許第4673955号
出願日: 2000年03月24日
公開日(公表日): 2001年10月05日
請求項(抜粋):
【請求項1】 光源と、 該光源からの光を被観察物体に導く照明光学系と、 該照明光学系内に配置されていて前記光源からの光を被観察光と被観察物体の干渉像を形成する為の参照光とにそれぞれ分割して導光する部材と、 被観察光と参照光の干渉により形成された干渉像を撮像素子に導く結像光学系と、 干渉像を撮像する撮像素子と、 該撮像素子からの画像情報を演算して位相情報を得る演算装置と、 前記照明光学系内または結像光学系内に配置されていて干渉像を形成する被観察光と参照光の相対的な位相差量を変化させる手段を有する光学装置であって、 被観察物体内の深さ方向における複数の点で光強度情報を取得し、 前記演算装置が、前記複数の点のうちの少なくとも2点の光強度情報の減衰特性に基づいて前記被観察物体の光散乱係数を求め、該光散乱係数を用いて被観察物体内の深さ方向の特定の点での光の散乱による減衰量が補正された位相情報を得ることを特徴とする光学装置。
IPC (5件):
G02B 21/00 ( 200 6.01) ,  G01N 21/00 ( 200 6.01) ,  G01N 21/17 ( 200 6.01) ,  G01N 21/45 ( 200 6.01) ,  G02B 27/52 ( 200 6.01)
FI (5件):
G02B 21/00 ,  G01N 21/00 B ,  G01N 21/17 610 ,  G01N 21/45 A ,  G02B 27/52
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • 微分干渉顕微鏡装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平7-265290   出願人:オリンパス光学工業株式会社
  • 特公平6-035946
引用文献:
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