特許
J-GLOBAL ID：201103077950613617
使用済みカッタービットの健全度評価方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (3件)：
平木 祐輔
, 関谷 三男
, 石川 滝治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-120782
公開番号（公開出願番号）：特開2011-246952
出願日： 2010年05月26日
公開日（公表日）： 2011年12月08日
要約：
【課題】資源の有効利用と環境影響負荷低減を図ることのできる使用済みカッタービットの健全度評価方法を提供すること。【解決手段】使用済みのカッタービット1を回収する第1のステップ、回収されたカッタービット1の健全度を評価する第2のステップ、カッタービット1の再利用先を選定する第3のステップからなり、第2のステップでは、カッタービット1を構成する母材3と、母材3の先端にロウ付けにて装着された超硬チップ2を分離することなく再利用が可能か否かが判断され、再利用可能と判断されたカッタービット1に対してロウ付け面4における有効ロウ付け面積とロウ付け箇所における疲労限を特定してカッタービットの健全度を評価し、第3のステップでは、有効ロウ付け面積とロウ付け箇所の疲労限からなる評価指標が地山を掘削するのに必要な強度を満足する場合にこの地山をカッタービットの再利用先として選定する健全度評価方法である。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
掘進機もしくは掘削機に装備された使用済みのカッタービットを回収する第1のステップと、
回収されたカッタービットの健全度を評価する第2のステップと、
健全度の評価結果に応じて被評価対象のカッタービットの再利用先を選定する第3のステップと、からなり、
第2のステップでは、カッタービットを構成する母材と、母材の先端にロウ付けにて装着された超硬チップを分離することなく再利用が可能か否かが判断され、再利用が可能と判断されたカッタービットに対して、ロウ付け面における空隙箇所を除いた有効ロウ付け面積と、ロウ付け箇所における疲労限と、を特定してカッタービットの健全度を評価し、
前記第3のステップでは、健全度が評価されたカッタービットのうち、少なくとも前記有効ロウ付け面積とロウ付け箇所の前記疲労限からなる評価指標が地山を掘削するのに必要な強度を満足する場合に、この地山をカッタービットの再利用先として選定する、使用済みカッタービットの健全度評価方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (6件)：
2D054AC01
, 2D054BA01
, 2D054BA07
, 2D054BB05
, 2D054BB06
, 2D054BB07
