特許
J-GLOBAL ID：200903099283184201

超音波検査方法及び装置

発明者：
武捨 義則

武捨 義則 について

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小池 正浩

小池 正浩 について

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渡辺 憲寛

渡辺 憲寛 について


出願人/特許権者：
株式会社日立製作所

株式会社日立製作所 について


代理人 (1件)： 作田 康夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-069070
公開番号（公開出願番号）：特開2004-279144
出願日： 2003年03月14日
公開日（公表日）： 2004年10月07日
要約：
【課題】外形と内部円筒状の接合面との形状が相似関係に無い場合のその接合面を外部から超音波検査で検査するに際し、今まで検査が不充分であった内部円筒状接合面の真上以外の範囲を確実に検査可能とする。【解決手段】角型棒状部材2の内側に円筒状凸部5が接合面6で接合された被検査体の接合面を検査するに際して、その被検査体内部の接合面6に対して特定の条件で超音波ビーム9を送受信する様に、集束ビーム型超音波探触子1の走査位置に応じて被検査体外表面から入射する超音波ビーム9の角度や集束ビーム型超音波探触子1と前記被検査体外表面との距離を変化して反射条件を各走査位置で揃えて、前記被検査体内部の接合面6からの超音波ビーム9の反射波情報を集束ビーム型超音波探触子1で受信して得るものである。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
一方の構造物内に他方の構造物が接合され、前記一方の構造物の外表面形状と前記一方の構造物内における前記一方の構造物と前記他方の構造物との接合面の形状とが相似関係に無い組合せ構造物を被検査体とし、 前記被検査体に対して前記一方の構造物の外側から超音波検査装置の超音波探触子を複数の位置に走査し、 前記各走査位置で前記被検査体の外表面から超音波を前記被検査体内に入射して前記被検査体内の前記接合面と前記超音波探触子の間で超音波を送受信し、 前記接合面からの前記超音波の反射波情報に基づいて前記接合面の健全性を検査する超音波探傷方法において、 前記超音波探触子の前記各走査位置に応じて、前記被検査体の外表面から入射する超音波の入射角度及び前記超音波探触子と前記被検査体の外表面との距離を変化させることによって、前記接合面と前記超音波探触子の間で超音波ビームを送受信する際の前記接合面での前記超音波の反射条件を前記各走査位置で揃えてなる超音波検査方法。
IPC (3件)：
G01N29/26 ,  G01N29/06 ,  G01N29/22
FI (3件)：
G01N29/26 501 ,  G01N29/06 ,  G01N29/22 502
Fターム (17件)：
2G047AB01 ,  2G047AB02 ,  2G047AB07 ,  2G047BA03 ,  2G047BB06 ,  2G047BC09 ,  2G047DA03 ,  2G047DB14 ,  2G047DB17 ,  2G047EA08 ,  2G047EA10 ,  2G047GA03 ,  2G047GA06 ,  2G047GG01 ,  2G047GG06 ,  2G047GG33 ,  2G047GH14
引用特許：
出願人引用 (8件)
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審査官引用 (8件)
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