特許
J-GLOBAL ID：201103077975847248

撮像装置

発明者：
木島 貴行

木島 貴行 について

, 
吉田 英明

吉田 英明 について


出願人/特許権者：
オリンパス株式会社

オリンパス株式会社 について


代理人 (4件)： 鈴江 武彦 ,  村松 貞男 ,  風間 鉄也 ,  水野 浩司
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-327217
公開番号（公開出願番号）：特開2001-145028
特許番号：特許第4311833号
出願日： 1999年11月17日
公開日（公表日）： 2001年05月25日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 被写体像を撮像するための撮像素子と、この撮像素子に対する露光を制御する露出制御手段と、前記撮像素子における電荷蓄積時間を制御する蓄積時間制御手段と、前記露出制御手段及び蓄積時間制御手段を制御して前記撮像素子の所定の動作状況における欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、この欠陥画素検出手段により検出された欠陥画素の情報に関しては当該画素近傍の画素情報によってこれを補償する画素欠陥補償手段とを具備した撮像装置であって、 前記欠陥画素検出手段は、検出する欠陥画素の数を所定値以下に制限する欠陥画素数制限手段と、前記露出制御手段により前記撮像素子に対する露光を遮断した状態で、前記撮像素子における電荷蓄積及び読み出し動作を実行するテスト撮像手段と、前記テスト撮像手段により得られた撮像素子出力レベルを所定の画素欠陥判定レベルと比較することにより欠陥画素を判定する欠陥判定手段と、前記欠陥判定手段における判定に際して本露光の露出時間とテスト撮像時間の違いに応じて前記画素欠陥判定レベルを補正する判定補正手段とを有したものであり、 前記欠陥画素数制限手段は、前記欠陥判定手段によって一旦判定された欠陥画素の数が前記所定値を超える場合には、前記画素欠陥判定レベルを変更した後に再度前記欠陥判定手段による判定を行わせるものであることを特徴とする撮像装置。
IPC (3件)：
H04N 5/335 ( 200 6.01) ,  H01L 21/339 ( 200 6.01) ,  H01L 29/762 ( 200 6.01)
FI (2件)：
H04N 5/335 P ,  H01L 29/76 301 C
引用特許：
審査官引用 (4件)
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