特許
J-GLOBAL ID:201103078387110723
結晶系太陽電池の製造における処理方法及び処理装置
発明者:
,
,
,
,
,
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
浜野 孝雄
, 平井 輝一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2009-181627
公開番号(公開出願番号):特開2011-035262
出願日: 2009年08月04日
公開日(公表日): 2011年02月17日
要約:
【課題】 スライス時に生じる基板のダメージ層の除去からテクスチャー形成工程を一括してドライエッチングにより処理する処理方法及び処理装置を提供する。【解決手段】 真空処理チャンバ内に、結晶系太陽電池の製造に用いられるエッチング処理すべき基板の装着される基板電極を設け、基板電極に装着した基板をエッチング処理するようにしたドライエッチング処理において、基板の表面のスライス時に生じたダメージ層を除去する工程と、ダメージ層を除去した基板の表面にテクスチャーを形成する工程とを真空処理チャンバ内で連続して行うように構成される。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
真空処理チャンバ内に、結晶系太陽電池の製造に用いられるエッチング処理すべき基板の装着される基板電極を設け、基板電極に装着した基板をエッチング処理するようにしたドライエッチング処理方法において、
基板の表面のスライス時に生じたダメージ層を除去する工程と、
ダメージ層を除去した基板の表面にテクスチャーを形成する工程と
を連続して行うことを特徴とするドライエッチング処理方法。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (8件):
5F051AA02
, 5F051CB22
, 5F051GA04
, 5F051GA15
, 5F151AA02
, 5F151CB22
, 5F151GA04
, 5F151GA15
引用特許:
審査官引用 (8件)
-
太陽電池の製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2005-170859
出願人:シャープ株式会社
-
太陽電池用基板の粗面化方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-293030
出願人:京セラ株式会社
-
太陽電池用基板の粗面化法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-392774
出願人:京セラ株式会社
-
特開昭55-105382
-
半導体ウェハの加工方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2005-113182
出願人:株式会社ディスコ, 松下電器産業株式会社
-
特開平2-250323
-
特開昭55-105382
-
特開平2-250323
全件表示
前のページに戻る