特許
J-GLOBAL ID：201103078782910577

電子部品のリード浮き検出方法及び装置

発明者：
岡林 光正

岡林 光正 について


出願人/特許権者：
JUKI株式会社

JUKI株式会社 について


代理人 (4件)： 高矢 諭 ,  松山 圭佑 ,  牧野 剛博 ,  加藤 卓
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-310507
公開番号（公開出願番号）：特開2001-127498
特許番号：特許第4463910号
出願日： 1999年11月01日
公開日（公表日）： 2001年05月11日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 本体部より、外方へ延出した複数のリードが一列に並んだリード列を複数備えた電子部品のリード浮き検査方法において、 移載ヘッドのノズルに電子部品を吸着して基板に移送する途中において、この電子部品をレーザ装置の上方に位置せしめ、 このレーザ装置から電子部品のリードに向って下方からレーザ光を照射することによりリードの最下点の高さを検出し、 次いで各リード列毎に、該高さが最も低いリードを2点ずつ抽出し、 抽出されたリードの2点と、この2点のあるリード列と対向するリード列で、前記高さが最も低いリードの1点の3点を含む仮想平面を各リード列毎に算出し、 各算出された仮想平面に対して各仮想平面からリードまでの距離をリード浮き量とし、あらかじめ設定されたリード浮き許容量と比較してリード浮き量を求めるようにしたことを特徴とする電子部品のリード浮き検出方法。
IPC (2件)：
H05K 13/08 ( 200 6.01) ,  H05K 13/04 ( 200 6.01)
FI (2件)：
H05K 13/08 K ,  H05K 13/04 B
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (4件)
  • 特公平7-094976
  • 特公平7-094976
  • リードの状態測定方法及び装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-242740   出願人：株式会社アドテックエンジニアリング
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