特許
J-GLOBAL ID：201103083456610656
高空間分解能歪み分布測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
光石 俊郎
, 田中 康幸
, 松元 洋
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-128099
公開番号（公開出願番号）：特開2002-323305
特許番号：特許第3763457号
出願日： 2001年04月25日
公開日（公表日）： 2002年11月08日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 一定の光周波数を持つ連続光から取り出したパルス光を、測定対象である構造物に対して固着された歪み測定用光ファイバに入射し、該歪み測定用光ファイバ内で生じたブリルアン散乱光の周波数の時間変化を解析することにより、前記構造物の歪み分布を測定する方法において、
前記パルス光のパルス幅で定められる空間分解能以下となる所望の長さの部分を前記測定対象構造物に直線状に固着する第1工程と、
前記空間分解能と前記所望の長さとの差分以上の長さの部分に、観測すべき最大の歪み量より大きい歪み量となる張力を加えてこれを前記直線の延長上以外の位置に配置する第2工程とを有し、
これらの第1工程及び第2工程を必要なだけ繰り返し、前記歪み測定用光ファイバを前記測定対象構造物に対して固着すると共に、
該歪み測定用光ファイバ内で生じたブリルアン散乱光の周波数の時間変化を解析する際に、第1工程で固着した部分から生じた散乱光スペクトルと第2工程で配置した部分から生じた散乱光スペクトルとを、中心周波数の差から各々のスペクトルを分離して、前記一つ又は複数の第1工程で固着した部分から生じた散乱光の持つ周波数領域のみについて解析することを特徴とする高空間分解能歪み分布測定方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
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