特許
J-GLOBAL ID:201103085541177689

III族窒化物半導体結晶の製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 藤谷 修
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-077174
公開番号(公開出願番号):特開2011-207676
出願日: 2010年03月30日
公開日(公表日): 2011年10月20日
要約:
【課題】結晶成長速度、育成量を向上させ、かつ結晶の厚さの均一性を高めることが可能なNaフラックス法によるGaN結晶の製造方法を提供する。【解決手段】Naフラックス法によるGaN結晶育成中、混合融液中のGaN結晶表面から気液界面までの距離を10mm以下に保持し、坩堝と種結晶とを下記回転モードでそれぞれ独立に回転させた。すなわち、坩堝の回転方向を周期的に反転させ、種結晶の回転方向を坩堝の回転方向とは完全に逆方向とした。このような条件で坩堝および種結晶を回転させながらGaN結晶を育成することにより、GaN結晶の成長速度が早くなって育成量を向上させるとともに、GaN結晶の厚さを均一にすることができる。【選択図】図2
請求項(抜粋):
III 族金属とアルカリ金属とを少なくとも含む混合融液と、種結晶とを坩堝に保持し、前記混合融液と、少なくとも窒素を含む気体とを反応させ、前記種結晶にIII 族窒化物半導体を結晶成長させるIII 族窒化物半導体結晶の製造方法において、 前記III 族窒化物半導体結晶を結晶成長させる工程中、 前記混合融液中の前記III 族窒化物半導体結晶の表面から、前記混合融液と前記気体との気液界面までの距離を、10mm以下に保持し、 前記種結晶と前記坩堝をそれぞれ独立に回転させ、かつ、前記種結晶の回転方向を前記坩堝の回転方向とは逆方向とする、 ことを特徴とするIII 族窒化物半導体結晶の製造方法。
IPC (2件):
C30B 29/38 ,  C30B 19/10
FI (2件):
C30B29/38 D ,  C30B19/10
Fターム (10件):
4G077AA02 ,  4G077BE15 ,  4G077CG02 ,  4G077EA04 ,  4G077EH08 ,  4G077QA04 ,  4G077QA12 ,  4G077QA29 ,  4G077QA34 ,  4G077QA54
引用特許:
審査官引用 (2件)

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