超電導線材の検査装置および検査方法

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：特許業務法人深見特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-111436
公開番号（公開出願番号）：特開2011-197009
出願日： 2011年05月18日
公開日（公表日）： 2011年10月06日
要約：

【課題】超電導線材の欠陥を感度よく検査する【解決手段】超電導線材の検査装置は、超電導線材(20)の表面(20a)の法線方向に光を照射する青色LED(1)と、超電導線材(20)の表面(20a)の法線方向と角度をなす方向に光を照射する赤色LED(2)と、超電導線材(20)からの反射光(B1)を主として受光し、かつ超電導線材(20)からの散乱光(C2)を主として受光するカラーラインセンサ(3)と、カラーラインセンサ(3)にて受光した光の光量を積算して出力するコンピュータ(5)とを備えている。【選択図】図8

請求項（抜粋）：

超電導線材(20)に光を照射する照射部(1,2)と、前記超電導線材からの光を受光する受光部(3)と、前記受光部にて受光した光の光量を積算して出力する出力部(5)とを備える、超電導線材の検査装置(10)。

IPC (4件)：

G01N 21/892 , G01B 7/00 , G01B 11/24 , G01B 5/20

FI (4件)：

G01N21/892 C , G01B7/00 101F , G01B11/24 A , G01B5/20 C

Fターム (56件)：

2F062AA02 , 2F062AA66 , 2F062BB02 , 2F062BC01 , 2F062CC27 , 2F062EE07 , 2F062EE62 , 2F062GG66 , 2F062HH05 , 2F063AA02 , 2F063AA49 , 2F063BA30 , 2F063BC08 , 2F063DA01 , 2F063DA02 , 2F063EB01 , 2F063GA08 , 2F063GA15 , 2F065AA06 , 2F065AA12 , 2F065AA49 , 2F065BB12 , 2F065BB17 , 2F065DD03 , 2F065FF09 , 2F065FF41 , 2F065GG06 , 2F065GG07 , 2F065GG21 , 2F065HH13 , 2F065HH14 , 2F065JJ02 , 2F065JJ05 , 2F065JJ07 , 2F065JJ16 , 2F065LL12 , 2F065QQ05 , 2F065QQ14 , 2F065QQ25 , 2G051AA44 , 2G051AB04 , 2G051AB07 , 2G051AB08 , 2G051BA02 , 2G051BA04 , 2G051BA08 , 2G051BA10 , 2G051BB02 , 2G051BB03 , 2G051BB11 , 2G051CA03 , 2G051CA08 , 2G051CB01 , 2G051CB05 , 2G051DA06 , 2G051EB01

引用特許：

出願人引用 (5件)

特開平4-370906
超電導体クエンチ検出方法および装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-010996 出願人：キヤノン株式会社
特開平3-238307

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