特許
J-GLOBAL ID：201103088868344804

測光機器の受光装置

発明者：
大久保 賢

大久保 賢 について


出願人/特許権者：
株式会社トプコン

株式会社トプコン について


代理人 (1件)： 西脇 民雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-088749
公開番号（公開出願番号）：特開2011-220769
出願日： 2010年04月07日
公開日（公表日）： 2011年11月04日
要約：
【課題】干渉フィルタを用いて高い精度で所望の分光応答度特性を得ることのできる測光機器の受光装置を提供する。【解決手段】測定目的に応じた所定の分光応答度特性を有するように設計される測光機器の受光装置10である。入射光を拡散する拡散板12と、その拡散板12により拡散された入射光の波長成分を制限する干渉フィルタ15と、その干渉フィルタ15と拡散板12との間に配置され、干渉フィルタ15の入射面15bにおける入射光の入射角度を制限する入射角度制限部材(14)と、を備える。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
測定目的に応じた所定の分光応答度特性を有するように設計される測光機器の受光装置であって、 入射光を拡散する拡散板と、 該拡散板により拡散された入射光の波長成分を制限する干渉フィルタと、 該干渉フィルタと前記拡散板との間に配置され、前記干渉フィルタの入射面における入射光の入射角度を制限する入射角度制限部材と、 を備えることを特徴とする測光機器の受光装置。
IPC (3件)：
G01J 1/04 ,  G01J 1/42 ,  G01J 3/51
FI (5件)：
G01J1/04 B ,  G01J1/42 K ,  G01J1/42 L ,  G01J1/42 J ,  G01J3/51
Fターム (19件)：
2G020AA04 ,  2G020AA05 ,  2G020AA08 ,  2G020DA05 ,  2G020DA13 ,  2G020DA14 ,  2G020DA32 ,  2G020DA65 ,  2G065AA01 ,  2G065AA02 ,  2G065AA03 ,  2G065AA04 ,  2G065AB04 ,  2G065AB05 ,  2G065BA09 ,  2G065BB05 ,  2G065BB20 ,  2G065BB27 ,  2G065CA08
引用特許：
審査官引用 (5件)
  • 特開平2-061524
  • 赤外線検出器
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-361071   出願人：株式会社堀場製作所
  • 特開昭54-088176
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