特許
J-GLOBAL ID:201103091174527953

半導体素子および半導体ウエハ

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 特許業務法人ハートクラスタ ,  渡辺 征一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2009-233524
公開番号(公開出願番号):特開2011-082348
出願日: 2009年10月07日
公開日(公表日): 2011年04月21日
要約:
【課題】 本発明は、近赤外域に感度を持ち、冷却することなく暗電流を抑制することができる、半導体素子および半導体ウエハを提供することを目的とする。【解決手段】InP基板1上に形成された、単位量子井戸にInxGa1-xAs層(0.38≦x≦0.68)7およびGaAsySb1-y層(0.36≦y≦0.62)8を含む多重量子井戸構造を備え、GaAsySb1-y層の中に、またはGaAsySb1-y層とInxGa1-xAs層との間に、導電帯の底がGaAsySb1-y層よりも高い第1のバリア層B1が位置し、その第1のバリア層の厚みが0.2nm以上2.5nm以下であることを特徴とする。【選択図】 図2
請求項(抜粋):
InP基板上に形成された、単位量子井戸にInxGa1-xAs層(0.38≦x≦0.68)およびGaAsySb1-y層(0.36≦y≦0.62)を含む多重量子井戸構造を備えた半導体素子であって、 前記GaAsySb1-y層の中に、または前記GaAsySb1-y層と前記InxGa1-xAs層との間に、導電帯の底が前記GaAsySb1-y層の導電帯の底よりも高い第1のバリア層が位置し、その第1のバリア層の厚みが0.2nm以上2.5nm以下であることを特徴とする、半導体素子。
IPC (1件):
H01L 31/10
FI (1件):
H01L31/10 A
Fターム (9件):
5F049MA02 ,  5F049MB07 ,  5F049NA01 ,  5F049NA05 ,  5F049NB01 ,  5F049QA16 ,  5F049QA18 ,  5F049SS04 ,  5F049WA01
引用特許:
審査官引用 (1件)
  • 量子層の構造
    公報種別:公表公報   出願番号:特願平7-524893   出願人:フラウンホッファーゲゼルシャフトツァフェルダールングデァアンゲヴァンテンフォアシュンクエー.ファオ.
引用文献:
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