特許
J-GLOBAL ID：201103091354314370
化粧料の膜の断面観察用試料の調製方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (6件)：
川口 嘉之
, 松倉 秀実
, 遠山 勉
, 佐貫 伸一
, 丹羽 武司
, 辻田 朋子
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-275345
公開番号（公開出願番号）：特開2011-117826
出願日： 2009年12月03日
公開日（公表日）： 2011年06月16日
要約：
【課題】液体と固体を含有し、硬さが異なる材料からなる化粧料の膜の断面観察用試料を簡単に調製することが可能な、化粧料の膜の断面観察用試料の調製方法、該断面の評価方法及び該評価結果から化粧料を処方設計し作成する方法を提供すること。【解決手段】支持体の表面に化粧料を塗布し、支持体上に化粧料の皮膜を形成させ、イオンビームでエッチングをして、該膜の観察用断面を形成する。前記イオンビームはアルゴンイオンビーム又はC60クラスターイオンビームが好ましい。さらに、前記化粧料の膜は樹脂包埋剤で被覆して外膜を形成することが好ましく、断面形成部分に収束イオンビームによるスパッタコーティングすることが好ましい。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
支持体の表面に化粧料を塗布して、支持体上に化粧料の膜を形成する工程、及びイオンビームによるエッチングで前記化粧料の膜の厚さ方向の断面を露出させて、化粧料膜の観察用断面を形成する工程を含む、化粧料の膜の断面観察用試料の調製方法。
IPC (1件)：
FI (2件)：
Fターム (4件)：
2G052EC22
, 2G052FA00
, 2G052FD06
, 2G052GA11
