特許
J-GLOBAL ID：201103092433568325
電気光学装置の検査用回路、電気光学装置および電子機器
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
上柳 雅誉
, 須澤 修
, 宮坂 一彦
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-372839
公開番号（公開出願番号）：特開2002-174655
特許番号：特許第4276373号
出願日： 2000年12月07日
公開日（公表日）： 2002年06月21日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 複数の走査線と複数のデータ線との交差の各々に対応して設けられて容量の一端をなす画素電極と、前記画素電極と前記データ線との間に介挿された画素スイッチング素子と前記画素電極に接続された電気光学素子を具備する電気光学装置について、前記画素スイッチング素子をオンさせることにより前記画素電極にデータ信号を与えた後、当該画素電極に印加された電圧が当該データ信号に応じた電圧に対応するか否かを判定するために、前記画素電極に印加された電圧を読出信号線に出力させる電気光学装置の検査用回路であって、
前記複数の各データ線と前記読出信号線との間に介挿された複数の検査スイッチング素子と、
論理レベルの変化を伴う周期的な検査用クロック信号またはアドレス信号に基づいて指定された前記検査スイッチング素子に制御信号を出力する出力手段と、当該出力手段と前記複数の各検査スイッチング素子間に挿入され、前記複数の各データ線に対応して設けられた複数の遅延回路とを有する制御回路であって、前記検査用クロック信号またはアドレス信号のレベル変化のタイミングよりも遅れたタイミングで、指定された前記検査スイッチング素子をオンさせる制御回路と、
を具備することを特徴とする電気光学装置の検査用回路。
IPC (7件)：
G01R 31/02 ( 200 6.01)
, G02F 1/13 ( 200 6.01)
, G02F 1/133 ( 200 6.01)
, G02F 1/1345 ( 200 6.01)
, G09G 3/20 ( 200 6.01)
, G09G 3/34 ( 200 6.01)
, G09G 3/36 ( 200 6.01)
G01R 31/02
, G02F 1/13 101
, G02F 1/133 550
, G02F 1/134
, G09G 3/20 670 B
, G09G 3/20 670 Q
, G09G 3/34 Z
, G09G 3/36
