再生装置、干渉計測装置、制御プログラム、および記録媒体

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：特許業務法人原謙三国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-255138
公開番号（公開出願番号）：特開2011-099781
出願日： 2009年11月06日
公開日（公表日）： 2011年05月19日
要約：

【課題】光路長シフト法を用いたデジタルホログラフィにおいて、高精度計測を行うことができるデジタルホログラフィ装置を提供する。【解決手段】本発明に係るデジタルホログラフィ装置は、被写体からの物体光と物体光に対してコヒーレントな参照光とが干渉して形成される干渉パターンを示すデータから、物体光の複素振幅分布を求めるコンピュータ4を備え、コンピュータ4は、上記被写体からの光路長が異なる2つの干渉パターンを示すデータを取得するデータ入力部10と、上記2つの干渉パターンのデータを用いて、0次回折光の物体光成分を求め、上記0次回折光の物体光成分を用いて物体光の複素振幅分布を求める物体光算出部11とを備える。そのため、被写体の高精度な再生像を生成することができる。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

被写体からの物体光と物体光に対してコヒーレントな参照光とが干渉して形成される干渉パターンを示すデータから、物体光の複素振幅分布を求める再生装置であって、上記被写体からの光路長が異なる2つの干渉パターンを示すデータを取得する取得部と、上記2つの干渉パターンのデータを用いて、0次回折光の物体光成分を求め、上記0次回折光の物体光成分を用いて物体光の複素振幅分布を求める第1処理部とを備えることを特徴とする再生装置。

IPC (3件)：

G01B 9/021 , G01B 11/24 , G03H 1/22

FI (3件)：

G01B9/021 , G01B11/24 D , G03H1/22

Fターム (38件)：

2F064AA09 , 2F064EE01 , 2F064FF01 , 2F064GG12 , 2F064GG22 , 2F064GG44 , 2F064GG52 , 2F064GG61 , 2F064HH03 , 2F064HH08 , 2F064JJ01 , 2F064JJ15 , 2F064LL02 , 2F064LL06 , 2F064LL11 , 2F065AA53 , 2F065BB05 , 2F065FF54 , 2F065GG04 , 2F065JJ03 , 2F065JJ05 , 2F065JJ26 , 2F065LL12 , 2F065LL46 , 2F065LL65 , 2F065MM24 , 2F065PP24 , 2F065QQ16 , 2F065QQ23 , 2F065QQ24 , 2F065QQ31 , 2F065UU07 , 2K008AA06 , 2K008CC03 , 2K008FF27 , 2K008HH01 , 2K008HH18 , 2K008HH28

引用特許：

審査官引用 (2件)

デジタルホログラフィ装置及びデジタルホログラフィを用いた像再生方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2004-093829 出願人：独立行政法人科学技術振興機構
粒度測定装置及び粒度測定方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2008-185731 出願人：新日本製鐵株式会社

引用文献：

審査官引用 (2件)

Parallel optical-path-length-shifting digital holography
Single-Shot Optical-Path-Length-Shifting Digital Holography

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