特許
J-GLOBAL ID：201103099304356286

3次元計測装置、処理方法及びプログラム

発明者：
中里 祐介

中里 祐介 について

, 
小林 一彦

小林 一彦 について


出願人/特許権者：
キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (6件)： 大塚 康徳 ,  高柳 司郎 ,  大塚 康弘 ,  木村 秀二 ,  下山 治 ,  永川 行光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-039201
公開番号（公開出願番号）：特開2011-175477
出願日： 2010年02月24日
公開日（公表日）： 2011年09月08日
要約：
【課題】3次元形状モデルと計測データとの対応付けの演算の効率化を図り、対象物体の位置及び姿勢の算出を高速化する。【解決手段】3次元計測装置は、対象物体の3次元形状モデルの幾何特徴上の点を選択し、対象物体の位置及び姿勢を示す概略値と距離画像の撮影時の撮影パラメータとに基づいて当該選択された幾何特徴上の複数の点を距離画像上に投影し、投影点から所定範囲内の領域で3次元形状モデルの幾何特徴に対応する距離画像上の幾何特徴を探索して対応付ける。そして、当該対応付けられた3次元形状モデルの幾何特徴と距離画像上の幾何特徴との3次元空間における距離の差を用いて対象物体の位置及び姿勢を算出する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
各画素が対象物体との間の距離を示す距離画像を取得する画像取得手段と、 前記対象物体の位置及び姿勢を示す概略値を取得する概略値取得手段と、 前記対象物体の3次元形状モデルの幾何特徴上の点を選択する選択手段と、 前記対象物体の位置及び姿勢を示す概略値と前記距離画像の撮影時の撮影パラメータとに基づいて前記選択手段により選択された幾何特徴上の複数の点を前記距離画像上に投影し、該投影点から所定範囲内の領域で前記3次元形状モデルの幾何特徴に対応する前記距離画像上の幾何特徴を探索して対応付ける対応探索手段と、 前記対応探索手段により対応付けられた前記3次元形状モデルの幾何特徴と前記距離画像上の幾何特徴との3次元空間における距離の差を用いて前記対象物体の位置及び姿勢を算出する位置姿勢算出手段と を具備することを特徴とする3次元計測装置。
IPC (3件)：
G06T 1/00 ,  G01B 11/00 ,  G01B 11/26
FI (3件)：
G06T1/00 315 ,  G01B11/00 H ,  G01B11/26 H
Fターム (26件)：
2F065AA04 ,  2F065AA06 ,  2F065AA35 ,  2F065AA37 ,  2F065AA53 ,  2F065FF09 ,  2F065FF11 ,  2F065GG04 ,  2F065HH05 ,  2F065PP25 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ17 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA13 ,  5B057CA16 ,  5B057CD14 ,  5B057DA07 ,  5B057DB02 ,  5B057DB03 ,  5B057DB09 ,  5B057DC05 ,  5B057DC08 ,  5B057DC09 ,  5B057DC32 ,  5B057DC36
引用特許：
審査官引用 (2件)

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