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J-GLOBAL ID:201202201175938454   整理番号:12A0650530

雲母表面間に挟まれた液晶ナノ薄膜の放射光X線回折測定による構造評価

著者 (11件):
資料名:
巻: 92nd  号:ページ: 955  発行年: 2012年03月09日 
JST資料番号: S0493A  ISSN: 0285-7626  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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放射光X線回折により,雲母表面間の液晶8CBについて,表面間距離を1.7nmとして測定したところ,8CBのラメラ周期に対応する回折ピークが観測され,時間経過に伴うピーク強度の減少が観測された。これは,時間による構造緩和を示している。本研究では,バックグラウンドからの散乱を低減し,11分の露光時間で測定を行ったことで,液体ナノ薄膜の構造及び構造緩和の観測に成功し,更にその原因を検討した。(著者抄録)
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分類 (4件):
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界面化学一般  ,  その他の液晶  ,  コロイド化学一般  ,  X線回折法 
物質索引 (1件):
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