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J-GLOBAL ID：201202205857235981   整理番号：12A0363390

箔をベースにしたキャパシタの品質試験方法

Quality testing methods of foil-based capacitors

著者 (3件)： SMULKO Janusz (Gdansk Univ. of Technol., Gdansk, POL) ,  JOZWIAK Kazimierz (ZPR Miflex SA, Kutno, POL) ,  OLESZ Marek (Gdansk Univ. of Technol., Gdansk, POL)
資料名： Microelectronics Reliability  (Microelectronics Reliability)
巻： 52  号： 3  ページ： 603-609  発行年： 2012年03月 
JST資料番号： C0530A  ISSN： 0026-2714  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 箔ベースのキャパシタは広く使われている受動素子であり,それゆえに安価で信頼性が高くなければならない。現在適用されている試験方法は時間がかかりエネルギーを多く使う。その上,これらの方法は特別な消費者要求(例えば,鉱山,医療器具)による非常に耐久性がなければならないキャパシタを選別することが出来ない。したがって,新しいより効率的な方法が提案されなければならない。本稿は構造と製造方法に起因するキャパシタ故障のメカニズムを詳細に記述する。誘電体箔内部の過剰電界による可能なキャパシタ故障の理論的検討を含んでいる。選択した電気パラメータと過剰エージングによる容量低下との相関の結果を示し,新しキャパシタの品質予測法を提案して詳細に検討した。Copyright 2012 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *コンデンサ ,  品質検査 ,  信頼性試験 ,  機構 ,  回路部品 ,  *箔 ,  予測 ,  品質
準シソーラス用語： キャパシタ ,  故障メカニズム ,  受動素子 ,  *品質予測

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  LCR部品  (NA05030D)

タイトルに関連する用語 (3件)： 箔 ,  キャパシタ ,  品質試験