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J-GLOBAL ID：201202207685661960   整理番号：12A0582012

78Kでの原子間力顕微鏡法によるNaCl(100)/Cu(111)表面の力マッピング

Force Mapping of the NaCl(100)/Cu(111) Surface by Atomic Force Microscopy at 78K

著者 (8件)： LI Yan Jun (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  KINOSHITA Yukinori (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  TENJIN Keita (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  MA Zong Min (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  KOU Li Li (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  NAITOH Yoshitaka (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  KAGESHIMA Masami (Tokyo Gakugei Univ., Tokyo, JPN) ,  SUGAWARA Yasuhiro (Osaka Univ., Osaka, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 51  号： 3,Issue 1  ページ： 035201.1-035201.5  発行年： 2012年03月25日 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 新しい原子間力顕微鏡法(AFM)の力マッピングを用いて,78Kで導電性Cu(111)基板上の絶縁性薄い(100)NaCl膜を調べた。この技法は,AFMチップと試料の表面イオン間の相互作用力をマップすることができる。NaCl薄膜の(100)表面の部位特異的な力曲線を示した。Na⁺およびCl^-部位で短距離の相互作用引力だけを観測した。異なるイオン部位での力曲線の挙動を説明するために単純な模型を提案した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *原子間力顕微鏡 ,  基板 ,  銅 ,  *超薄膜 ,  *塩化ナトリウム ,  相互作用 ,  *引力 ,  モデリング

分類 (1件)： 顕微鏡法  (BK01040E)

引用文献 (27件)：

• 1) G. Binnig, C. F. Quate, and C. Gerber: Phys. Rev. Lett. 56 (1986) 930.
• 2) F.-J. Giessibl: Science 267 (1995) 68.
• 3) R. Garc隗a and R. Pérez: Surf. Sci. Rep. 47 (2002) 197.
• 4) S. P. Jarvis, H. Yamada, S. I. Yamamoto, N. Tokumoto, and J. B. Pethica: Nature 384 (1996) 247.
• 5) M. A. Lantz, H. J. Hug, R. Hoffmann, P. J. A. van Schendel, P. Kappenberger, S. Martin, A. Baratoff, and H. J. Giintherodt: Science 291 (2001) 2580.

タイトルに関連する用語 (5件)： 原子間力顕微鏡法 ,  NaCl ,  Cu ,  力 ,  マッピング