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J-GLOBAL ID：201202210693528544   整理番号：12A1708515

SSDの現状と将来動向 エラーを76%削減したSSD

Overview and future perspectives of Solid-State Drives (SSDs)

著者 (3件)： 竹内健 (中央大 理工) ,  田中丸周平 (東大) ,  柳原裕貴 (東大)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 112  号： 249(MR2012 19-28)  ページ： 1-6  発行年： 2012年10月11日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： SSDの現状と将来動向を紹介する。更に,10倍の長寿命,エラーを76%削減したSSDを紹介する。提案のエラー予測LDPCは7倍高速の読み出しと高い信頼性を実現する。データ保持時間の推定手法も提案する。しきい値電圧,メモリセル間干渉,書き換え回数とデータ保持時間を用いてメモリセルのデータをキャリブレーションすることで効率的にエラーを訂正することができる。信頼性の情報を記録したテーブルを出荷前に用意し,ビットエラー率の推定に用いる。エラー回復機構も提案する。書き込みエラー回復パルスとデータ保持エラー回復パルスを印可することで,書き込みエラーとデータ保持エラーがそれぞれ76%,56%削減できる。(著者抄録)

シソーラス用語： *駆動機構 ,  *フラッシュメモリ ,  寿命 ,  高速化 ,  誤り訂正 ,  誤り訂正符号 ,  信頼性 ,  保持時間 ,  電磁干渉 ,  誤り率
準シソーラス用語： ECC【コード】 ,  LDPC符号 ,  *SSD ,  セル間干渉 ,  データ保持 ,  ビット誤り率 ,  高信頼性 ,  長寿命 ,  閾値電圧

分類 (1件)： 記憶装置  (JC04060F)

引用文献 (9件)：

• ., Tanakamaru. Over-1 Ox-Extended-Lifetime 76%-Reduced-Error Solid-State Drives (SSDs) With Error-Prediction LDPC Architecture and Error-Recovery Scheme. mCC Dig. Tech. Paper2012. 2012, 424-425
• LEE ET, J-D. al.,"Effects of Floating-Gate Interference on NAND Flash Memory Cell Operation. IEEE Electron Device Lettersi\y. 2002, 23, 5, 264-266
• MOTWANI, R. Low Density Parity Check (LDPC) Codes and the NEED for Stronger ECC. Flash K^°mory Summit2011. 2011
• KIM, C. A21nm High Performance 64Gb MLG NAND Flash Memory with 400MB/s Asynchronous Toggle DDR Interface. Symposium on VLSI Circuits Dig. feeh Papers2011. 2011, 196-197
• DONG, G. On the Use of Soft-Decision ? Error-Correction Codes in NAND Hash Memory. IEEE Trans Circuits and Systems I. 2011, 58, 2, 429-439

タイトルに関連する用語 (4件)： SSD ,  現状 ,  将来動向 ,  エラー