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J-GLOBAL ID:201202213522735230   整理番号:12A1711936

イオン衝撃のエネルギーを増大させることによる(100)Ge上でのスポンジからドットアレイへ

From sponge to dot arrays on (100) Ge by increasing the energy of ion impacts
著者 (5件):
資料名:
巻: 30  号:ページ: 06FF12-06FF12-5  発行年: 2012年11月 
JST資料番号: E0974A  ISSN: 2166-2746  CODEN: JVTBD9  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
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780Kまでの温度のGe表面を,10から30keVまでの運動エネルギーをもつ1017Bi+イオンcm-2までの垂直入射において照射した。得られた表面形態を,走査電子顕微鏡により研究した。室温において,高エネルギーBi+の衝撃は,多孔性ネットワークを生じ,他方,高温照射では,六方晶規則化ドットアレイが形成された。しかし,更なる温度上昇の後には,表面は滑らかになった。総括的な実験研究を,イオンエネルギー対基板温度面における表面形態の相図に要約した。この相図において,基板温度上昇によるドット形成の開始は,イオン衝撃の衝突カスケード体積のナノメルティングにより矛盾なくモデル化された。その際,構築したシミュレーションプログラムにより予測されたように,カスケード体積に堆積されたエネルギー密度のみならず,非晶質Geの熱力学的パラメータ(メルト温度,融解熱,及び熱容量)を考慮した。(翻訳著者抄録)
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分類 (3件):
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固体デバイス製造技術一般  ,  電子ビーム・イオンビームの応用  ,  半導体の表面構造 
タイトルに関連する用語 (5件):
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