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J-GLOBAL ID：201202222749837063   整理番号：12A0535607

液晶位相変調器を用いたストークス偏光計

Stokes Polarimeter by Double Liquid Crystal Phase Modulator

著者 (4件)： 田中政之介 (アタゴ) ,  中島吉則 (アタゴ) ,  雨宮秀行 (アタゴ) ,  大谷幸利 (宇都宮大 オプティクス教育研究セ)
資料名： 光学  (Japanese Journal of Optics)
巻： 41  号： 3  ページ： 149-157  発行年： 2012年03月10日 
JST資料番号： G0125B  ISSN： 0389-6625  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 配向方向が0°と45°の2種類の液晶可変位相子で液晶位相変調器を構築し,液晶位相変調器により測定対象光を位相変調させて得られる光強度をフーリエ解析することによって,ストークスパラメータを求める解析アルゴリズムを提案した。液晶位相変調器を用いたストークス偏光計の計測原理および計測システムについて述べた。また,構築したストークス偏光計の性能を評価した結果も述べた。装置構成後の波長板等による波長キャリブレーションを必要とせずに多波長での計測が行なうことができる。

シソーラス用語： *偏光計 ,  Stokesパラメータ ,  位相変調 ,  キャリブレーション ,  アルゴリズム ,  Fourier解析 ,  計測システム ,  *光変調素子 ,  ネマチック相
準シソーラス用語： 位相変調器 ,  光変調器

分類 (1件)： 偏光測定と偏光計  (BD07050K)

引用文献 (15件)：

• AZZAM, R. M. A. Ellipsometry and Polarized Light. 1987, 257-260
• 応用物理学会光学懇話会. 結晶光学. 1975, 137-140
• ASPENS, D. E. Optimizing precision of rotating-analyzer ellipsometer. J. Opt. Soc. Am. 1974, 64, 639-646
• HAUGE, P. S. A rotating-compensator Fourier ellipsometers. Opt. Commun. 1975, 14, 431-437
• ASPENS, D. E. Rotating-compensator analyzer fixed analyzer ellipsometer : Analysis and comparison to other automatic ellipsometers. J. Opt. Soc. Am. 1976, 66, 949-954

タイトルに関連する用語 (3件)： 液晶 ,  位相変調器 ,  偏光計