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J-GLOBAL ID：201202233881732965   整理番号：12A0580782

アナログ負バイアス温度不安定性モニタ回路

Analog Negative-Bias-Temperature-Instability Monitoring Circuit

著者 (4件)： YELTEN Mustafa Berke (North Carolina State Univ., NC, USA) ,  YELTEN Mustafa Berke (Intel Corp., OR, USA) ,  FRANZON Paul D. (North Carolina State Univ., NC, USA) ,  STEER Michael B. (North Carolina State Univ., NC, USA)
資料名： IEEE Transactions on Device and Materials Reliability  (IEEE Transactions on Device and Materials Reliability)
巻： 12  号： 1  ページ： 177-179  発行年： 2012年03月 
JST資料番号： W1320A  ISSN： 1530-4388  CODEN： ITDMA2  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 負バイアス温度不安定性(NBTI)モニタサブ回路を提案し,65nm CMOS技術を用いて実現した。種々の変動,ストレス,及び,エージング履歴に従って,このサブ回路を種々のアナログ回路ブロックに導入できる。増幅器ブロックに関しては,NBTIは線形センサであり,センシングはNBTI誘起バイアス変動に応じた増幅器利得の変化として与えられる。この構造のモニタ感度は3.15V^-1であり,これを増幅器回路に対する電熱ストレスを通して示した。

シソーラス用語： 信頼性 ,  増幅器 ,  *アナログ回路 ,  *熱安定性 ,  センサ ,  等価回路 ,  利得 ,  *回路試験器 ,  CMOS構造 ,  回路試験 ,  寿命試験
準シソーラス用語： 負バイアス温度不安定性

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (3件)： アナログ ,  負バイアス温度不安定性 ,  モニタ回路