TAO Q.b. について
Dep. of Electrical & Electronic Engineering, The Univ. of Hong Kong, Pokfulam Road, Hong Kong について
LAI P.t. について
Dep. of Electrical & Electronic Engineering, The Univ. of Hong Kong, Pokfulam Road, Hong Kong について
Microelectronics Reliability について
帯電 について
フラッシュメモリ について
ゲルマニウム化合物 について
酸化物 について
窒化物 について
キャリア捕獲 について
加工温度 について
焼なまし について
透過型電子顕微鏡 について
電子顕微鏡観察 について
化学組成 について
X線光電子分光法 について
データ書込 について
データ消去 について
保持 について
素子構造 について
電荷捕獲 について
アニーリング温度 について
データ保持 について
電荷トラップ について
MONOS構造 について
半導体集積回路 について
アニール について
フラッシュメモリ について
電荷 について
蓄積層 について
性能改善 について