SHIN Hae-A-Seul について
Seoul National Univ., Dep. of Materials Sci. & Engineering, Seoul, KOR について
KIM Byoung-Joon について
Seoul National Univ., Dep. of Materials Sci. & Engineering, Seoul, KOR について
KIM Ju-Heon について
Korea Inst. of Sci. and Technol., Materials Sci. and Technol. Div., Seoul, KOR について
HWANG Sung-Hwan について
Seoul National Univ., Dep. of Materials Sci. & Engineering, Seoul, KOR について
BUDIMAN Arief Suriadi について
Los Alamos National Lab., Center for Integrated Nanotechnologies (CINT), Los Alamos, NM, USA について
SON Ho-Young について
Hynix Semiconductor Inc., PKG Dev. Group, Res. & Dev. Div., Icheon, KOR について
BYUN Kwang-Yoo について
Hynix Semiconductor Inc., PKG Dev. Group, Res. & Dev. Div., Icheon, KOR について
TAMURA Nobumichi について
Lawrence Berkeley National Lab., Advanced Light Source (ALS), Berkeley, CA, USA について
KUNZ Martin について
Lawrence Berkeley National Lab., Advanced Light Source (ALS), Berkeley, CA, USA について
KIM Dong-Ik について
Korea Inst. of Sci. and Technol., Materials Sci. and Technol. Div., Seoul, KOR について
JOO Young-Chang について
Seoul National Univ., Dep. of Materials Sci. & Engineering, Seoul, KOR について
Journal of Electronic Materials について
バイアホール について
微細構造 について
欠陥 について
粒度分布 について
結晶成長 について
空孔欠陥 について
亀裂 について
応力集中 について
ICパッケージ について
焼なまし について
積層構造 について
双晶境界 について
3Dパッケージング について
アニーリング処理 について
クラック について
システムインパッケージ について
スルーシリコンビア について
ボイド欠陥 について
結晶サイズ分布 について
固体デバイス材料 について
熱アニーリング について
Cu について
スルーシリコンビア について
微細構造 について
欠陥形成 について