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J-GLOBAL ID：201202260891073665   整理番号：12A0616121

軟X線分光によるBiFe_1-xM_xO₃(M=Mn,Co)薄膜の電子構造

Electronic Structure of BiFe_1-xM_xO₃ (M=Mn and Co) Thin Films by Soft-X-Ray Spectroscopy

著者 (8件)： HIGUCHI Tohru (Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN) ,  NAGANUMA Hiroshi (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  MIURA Jun (Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN) ,  INOUE Yosuke (Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN) ,  LIU Yi-Sheng (Lawrence Berkeley National Lab., CA, USA) ,  GLANS Per-Anders (Lawrence Berkeley National Lab., CA, USA) ,  GUO Jinghua (Lawrence Berkeley National Lab., CA, USA) ,  OKAMURA Soichiro (Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN)
資料名： Transactions of the Materials Research Society of Japan  (Transactions of the Materials Research Society of Japan)
巻： 37  号： 1  ページ： 77-80  発行年： 2012年03月 
JST資料番号： L4468A  ISSN： 1382-3469  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： BiFeO₃薄膜の強誘電性(又は漏洩電流)と密接に関連した電子構造とエネルギーギャップを調べた。X線吸収分光と軟X線発光分光によりBiFe_1-xM_xO₃(M=Mn,Co)薄膜の電子構造を調べた。BiFe_0.96Mn_0.04O₃膜はMn³⁺とMn⁴⁺の混合原子価状態であったが,BiFe_0.96Co_0.04O₃膜はCo³⁺原子価状態であった。伝導帯はFe3d状態から成り,価電子帯はFe3d状態と混成化したO2pから成っていた。価電子帯のバンド幅はドープした元素の原子価状態に依存した。BiFe_0.96Mn_0.04O₃のエネルギーギャップはBiFe_0.96Co_0.04O₃よりも小さく,薄膜の漏洩電流が電子構造とエネルギーギャップに影響した。

シソーラス用語： ビスマス化合物 ,  フェライト ,  鉄化合物 ,  *マンガン化合物 ,  *コバルト化合物 ,  ドーピング ,  *誘電体薄膜 ,  強誘電体 ,  強磁性体 ,  *電子構造 ,  漏れ電流 ,  エネルギーギャップ ,  原子価 ,  状態 ,  伝導バンド ,  価電子バンド ,  *軟X線 ,  *X線分光法 ,  基板 ,  溶液成長 ,  RTA【熱処理】
準シソーラス用語： CSD法 ,  *ビスマスフェライト ,  価電子帯 ,  原子価状態 ,  伝導帯 ,  漏洩電流

分類 (2件)： 酸化物薄膜  (BK14050P) ,  絶縁体結晶の電子構造  (BM02070Y)

引用文献 (28件)：

• [1] F. Kubel and H. Schmid: Acta Crystallogr., Sect. B 46 (1990) 698.
• [2] G. Smolenskii, V. Isupov, A. Agranovskaya, and N. Kranik: Sov. Phys. Solid State 2 (1961) 2651.
• [3] G. Smolenskii, V. Yudin, E. Sher, and Y. E. Stolypin. Soy. Phys. JETP 16 (1963) 622.
• [4] J. B. Neaton, C. Ederer, U. V. Waghmare, N. A. Spaldin, and K. M. Rabe, Phys. Rev. B 71 (2005) 014113.
• [5] J. Wang, J. B. Neaton, H.-Zheng, V. Nagarajan, S. B. Ogale, B. Liu, D. Viehland, V. Vaithyanathan, D. G. Schlom, U. V. Waghmare, N. A. Spaldin, K. M. Rabe, M. Wuttig, and R. Ramesh: Science 299 (2003) 1719.

タイトルに関連する用語 (5件)： 軟X線 ,  分光 ,  CO ,  薄膜 ,  電子構造