文献

J-GLOBAL ID：201202266151215928   整理番号：12A0772949

エラー予測LDPCとエラー回復機構により10倍の長寿命,エラーを76%削減したSSD

Over-10x-Extended-Lifetime 76%-Reduced-Error Solid-State Drives (SSDs) with Error-Prediction LDPC Architecture and Error-Recovery Scheme

著者 (3件)： 田中丸周平 (東大) ,  柳原裕貴 (東大) ,  竹内健 (中央大 理工)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 112  号： 15(ICD2012 1-18)  ページ： 23-28  発行年： 2012年04月16日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 10倍の長寿命,エラーを76%削減したSSDを提案する。提案のエラー予測LDPCは7倍高速の読み出しと高い信頼性を実現する。データ保持時間の推定手法も提案する。しきい値電圧,メモリセル間干渉,書き換え回数とデータ保持時間を用いてメモリセルのデータをキャリブレーションすることで効率的にエラーを訂正することができる。信頼性の情報を記録したテーブルを出荷前に用意し,ビットエラー率の推定に用いる。エラー回復機構も提案する。書き込みエラー回復パルスとデータ保持エラー回復パルスを印可することで,書き込みエラーとデータ保持エラーがそれぞれ76%,56%削減できる。(著者抄録)

シソーラス用語： 予測 ,  パリティ検査 ,  *駆動機構 ,  障害回復 ,  寿命延長 ,  誤り訂正符号 ,  *信頼性
準シソーラス用語： 故障予測 ,  LDPC ,  *SSD

分類 (2件)： 半導体集積回路  (NC03162T) ,  記憶装置  (JC04060F)

引用文献 (9件)：

• TANAKAMARU, S. Over-10x-Extended-Lifetime 76%-Reduced-Error Solid-State Drives (SSDs) With Error-Prediction LDPC Architecture and Error-Recovery Scheme. ISSCC Dig. Tech. Papers, 2012. 2012, 424-425
• LEE, J-D. Effects of Floating-Gate Interference on NAND Flash Memory Cell Operation. IEEE Electron Device Letters. 2002, 23, 5, 264-266
• MOTWANI, R. Low Density Parity Check (LDPC) Codes and the NEED for Stronger ECC. Flash Memory Summit, 2011. 2011
• KIM, C. A 21nm High Performance 64Gb MLC NAND Flash Memory with 400MB/s Asynchronous Toggle DDR Interface. Symposium on VLSI Circuits Dig. Tech. Papers, 2011. 2011, 196-197
• DONG, G. On the Use of Soft-Decision Error-Correction Codes in NAND Flash Memory. IEEE Trans. Circuits and Systems I. 2011, 58, 2, 429-439

タイトルに関連する用語 (6件)： エラー ,  予測 ,  LDPC ,  回復 ,  長寿命 ,  SSD