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J-GLOBAL ID：201202269530225824   整理番号：12A0648938

高分子電解質膜のラジカル種による劣化過程-陽電子消滅法による解析-

著者 (6件)： 誉田義英 (大阪大 産科研) ,  青柳嘉一 (大阪大 産科研) ,  藤乗幸子 (大阪大 産科研) ,  渡辺岳 (大阪大 工) ,  秋山庸子 (大阪大 工) ,  西嶋茂宏 (大阪大 工)
資料名： 電気化学会大会講演要旨集
巻： 79th  ページ： 445  発行年： 2012年03月29日 
JST資料番号： Y0048A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *固体高分子形燃料電池 ,  *高分子膜 ,  高分子電解質 ,  ラジカル ,  *スペクトロスコピー ,  耐久性 ,  *機構 ,  フッ素樹脂 ,  陽イオン交換樹脂 ,  γ線 ,  電気伝導率 ,  構造 ,  *高分子電解質膜 ,  プロトン伝導率 ,  *陽電子消滅分光法
準シソーラス用語： クラスター構造 ,  ナフィオン117 ,  プロトン伝導度 ,  *陽電子消滅法 ,  *劣化機構

分類 (2件)： 燃料電池  (YB04040V) ,  高分子固体のその他の性質  (CG02025L)

タイトルに関連する用語 (4件)： 高分子電解質膜 ,  劣化過程 ,  陽電子消滅法 ,  解析