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J-GLOBAL ID：201202283550817003   整理番号：12A1389239

高解像度軟X線スペクトロスコピーで研究したSrTi_0.99Sc_0.01O₃薄膜の電子構造

Electronic Structure of SrTi_0.99Sc_0.01O₃ Thin Film Studied by High-Resolution Soft-X-ray Spectroscopy

著者 (6件)： OKUMURA Teppei (Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN) ,  INOUE Tomohiro (Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN) ,  TASAKI Yuji (Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN) ,  SAKAI Enju (KEK, Ibaraki, JPN) ,  KUMIGASHIRA Hiroshi (KEK, Ibaraki, JPN) ,  HIGUCHI Tohru (Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN)
資料名： Journal of the Physical Society of Japan  (Journal of the Physical Society of Japan)
巻： 81  号： 9  ページ： 094705.1-094705.4  発行年： 2012年09月15日 
JST資料番号： G0509A  ISSN： 0031-9015  CODEN： JUPSA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： X線吸収スペクトロスコピーと高解像度光電子放出スペクトロスコピー(HRPES)(XA)によってSrTi_0.99Sc_0.01O₃薄膜の電子構造を研究した。Ti⁴⁺サイトへのSc²置換の証拠を,Ti 2p,とSc 2p のXASスペクトルから得た。原子価バンドとコアレベルのHRPESスペクトルが原子価バンドが主Ti 3d状態と混成したにO 2p状態から成ることを示した。Fermi レベル(EF)は原子価帯トップから~1.2eVに位置する。原子価バンドのトップとEFのエネルギー分離は電気伝導率のArrheniusプロットから推定した活性化エネルギー(Ea)と良く一致した。これらの知見は, SrTi_0.99Sc_0.01O₃薄膜が大きいEaのp型酸化物半導体であることを示すかもしれない。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： 軟X線 ,  高分解能 ,  *X線分光法 ,  スカンジウム化合物 ,  ストロンチウム化合物 ,  *チタン化合物 ,  酸化物 ,  *薄膜 ,  電子構造 ,  光電子放出 ,  置換

分類 (1件)： 酸化物薄膜  (BK14050P)

タイトルに関連する用語 (6件)： 高解像度 ,  軟X線 ,  スペクトロスコピー ,  研究 ,  薄膜 ,  電子構造