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J-GLOBAL ID：201202285052319422   整理番号：12A1440904

プローブ測定における二次電子放出の考察

Consideration of Secondary Electron Emission Effect for Probe Measurement

著者 (3件)： TAWARAYA Takehito (Yokohama National Univ., Yokohama, JPN) ,  TSUSHIMA Akira (Yokohama National Univ., Yokohama, JPN) ,  YOSHIMURA Shinji (National Inst. Fusion Sci., Gifu, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 51  号： 9,Issue 1  ページ： 096101.1-096101.5  発行年： 2012年09月25日 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： プローブ測定において電子温度(T_e≧20eV)を高くすると,電子衝撃に起因する二次電子放出効果が,ますます重要になる。二次電子放出係数を考慮して,プローブの特性を評価する方法を提示し,異なる二次電子放出係数を持つタングステンとモリブデン電極の2つのLangmuirプローブを用いて,その妥当性を実験的に調べた。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *電子温度 ,  *Langmuir探針 ,  *二次電子放出 ,  電子衝突 ,  タングステン ,  モリブデン ,  電極材料
準シソーラス用語： 電子衝撃

分類 (1件)： プラズマ診断  (BJ02090L)

引用文献 (24件)：

• 1) I. H. Hutchinson: Principles of Plasma Diagnostics (Cambridge University Press, New York, 2002) p. 55.
• 2) F. F. Chen: Institute of Plasma Physics, Nagoya University, Report No. IPPJ-750 (1985).
• 3) K. Wiesemann: Ann. Phys. (Leipzig) 482 (1971) 303 [in German].
• 4) G. Fuchs: Phys. Lett. A 70 (1979) 317.
• 5) G. Fuchs, B. Schlarbaum, H. Beuscher, H. G. Mathews, and W. Krauss-Vogt: J. Nucl. Mater. 145-147 (1987) 268.

タイトルに関連する用語 (2件)： プローブ ,  二次電子放出