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J-GLOBAL ID：201202290291829770   整理番号：12A0441511

透過型電子顕微鏡に搭載した新設計波長分散分光計を使用する超軟X線発光分光法

Ultrasoft-X-ray emission spectroscopy using a newly designed wavelength-dispersive spectrometer attached to a transmission electron microscope

著者 (13件)： TERAUCHI Masami (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  TAKAHASHI Hideyuki (JEOL Ltd., Tokyo, JPN) ,  HANDA Nobuo (JEOL Ltd., Tokyo, JPN) ,  MURANO Takanori (JEOL Ltd., Tokyo, JPN) ,  KOIKE Masato (Japan Atomic Energy Agency, Kyoto, JPN) ,  KAWACHI Tetsuya (Japan Atomic Energy Agency, Kyoto, JPN) ,  IMAZONO Takashi (Japan Atomic Energy Agency, Kyoto, JPN) ,  KOEDA Masaru (Shimadzu Corp., Kyoto, JPN) ,  NAGANO Tetsuya (Shimadzu Corp., Kyoto, JPN) ,  SASAI Hiroyuki (Shimadzu Corp., Kyoto, JPN) ,  OUE Yuki (Shimadzu Corp., Kyoto, JPN) ,  YONEZAWA Zeno (Shimadzu Corp., Kyoto, JPN) ,  KURAMOTO Satoshi (Shimadzu Corp., Kyoto, JPN)
資料名： Journal of Electron Microscopy  (Journal of Electron Microscopy)
巻： 61  号： 1  ページ： 1-8  発行年： 2012年02月 
JST資料番号： W1384A  ISSN： 0022-0744  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 新格子を有する新しい軟X線発光分光法(SXES)のテスト結果を述べた。これは,新しい格子JS50XLを用いて透過型電子顕微鏡に取り付けた分光計で,検出低限界を60から50eVまで拡張した。Mg-I,Li-K,Al-L,Si-L及びP-L発光スペクトルを示した。Al-L及びSi-L発光間の相対的なシフトを,化学シフト及びバンドギャップエネルギーを考慮して説明した。SXESを,Li及びMg原子を含む化学分析に応用できることを示した。Mg-L発光の全体強度分布をカバーする低エネルギー領域への更なる拡張に関するテストも述べた。

シソーラス用語： *透過型電子顕微鏡 ,  検出限界 ,  化学シフト ,  軟X線 ,  回折格子 ,  *X線スペクトル ,  *分散【dispersion】 ,  マグネシウム ,  リチウム ,  アルミニウム ,  ケイ素 ,  リン ,  *X線分光分析 ,  *発光分析 ,  バンドギャップエネルギー ,  *X線発光分析
準シソーラス用語： *波長分散 ,  超軟X線 ,  *X線発光分光法

分類 (2件)： X線技術  (BA02060D) ,  その他の物理分析  (CC03014E)

タイトルに関連する用語 (5件)： 透過型電子顕微鏡 ,  設計 ,  波長分散 ,  分光計 ,  軟X線発光分光法