TERAUCHI Masami について
Tohoku Univ., Sendai, JPN について
TAKAHASHI Hideyuki について
JEOL Ltd., Tokyo, JPN について
HANDA Nobuo について
JEOL Ltd., Tokyo, JPN について
MURANO Takanori について
JEOL Ltd., Tokyo, JPN について
KOIKE Masato について
Japan Atomic Energy Agency, Kyoto, JPN について
KAWACHI Tetsuya について
Japan Atomic Energy Agency, Kyoto, JPN について
IMAZONO Takashi について
Japan Atomic Energy Agency, Kyoto, JPN について
KOEDA Masaru について
Shimadzu Corp., Kyoto, JPN について
NAGANO Tetsuya について
Shimadzu Corp., Kyoto, JPN について
SASAI Hiroyuki について
Shimadzu Corp., Kyoto, JPN について
OUE Yuki について
Shimadzu Corp., Kyoto, JPN について
YONEZAWA Zeno について
Shimadzu Corp., Kyoto, JPN について
KURAMOTO Satoshi について
Shimadzu Corp., Kyoto, JPN について
Journal of Electron Microscopy について
透過型電子顕微鏡 について
検出限界 について
化学シフト について
軟X線 について
回折格子 について
X線スペクトル について
分散【dispersion】 について
マグネシウム について
リチウム について
アルミニウム について
ケイ素 について
リン について
X線分光分析 について
発光分析 について
バンドギャップエネルギー について
波長分散 について
超軟X線 について
X線発光分光法 について
X線技術 について
その他の物理分析 について
透過型電子顕微鏡 について
設計 について
波長分散 について
分光計 について
軟X線発光分光法 について