文献

J-GLOBAL ID：201202296752917349   整理番号：12A0495028

X線トポグラフィの進展 タンパク質結晶のX線トポグラフ

X-ray Topography in Protein Crystals

著者 (2件)： 小島謙一 (横浜創英大) ,  橘勝 (横浜市大)
資料名： 日本結晶学会誌  (Journal of the Crystallographic Society of Japan)
巻： 54  号： 1  ページ： 29-36  発行年： 2012年02月29日 
JST資料番号： G0232A  ISSN： 0369-4585  CODEN： NKEGAF  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： タンパク質結晶を機能性材料として利用するには欠陥の解明が不可欠である。ここではX線トポグラフィによる欠陥の研究を紹介した。シンクロトン放射トポグラフィにより短時間で測定が可能になったが,欠陥の同定は不十分であった。最近一辺が3mm程度の正方晶の卵白リゾチーム結晶を用いてらせん転位を明らかにした。転位の歪場による直接像の観察するには,X線吸収係数μと試料の厚さtの関係がμt≦1を満足し,かつ消衰距離をζ_gとするとt≧αζ_g(1≧α≧0.3)の条件を満足する必要があり,試料の大きさが1mm以上必要であることを明らかにし,以前の研究では試料が小さすぎて転位の同定ができなかったことを明らかにした。正方晶,斜方晶,単斜晶のリゾチームの転位の特徴を示した。正方晶,斜方晶では直線状の転位が多いが,単斜晶では曲線状の転位が多く,転位機構が異なることを指摘した。今後CCDの分解能向上,中性子線トポグラフィの研究の必要性を指摘した。

シソーラス用語： *X線トポグラフィー ,  卵白 ,  *リゾチーム ,  *転位【結晶】 ,  正方晶系 ,  斜方晶系 ,  単斜晶系 ,  吸収係数 ,  厚み ,  距離 ,  トポグラフィー【形態】 ,  螺旋転位
準シソーラス用語： *シンクロトン放射トポグラフィ ,  X線吸収係数 ,  厚さ ,  消衰距離 ,  中性子線トポグラフィ

分類 (1件)： 有機化合物の格子欠陥  (BK12060M)

引用文献 (37件)：

• 新村信雄. 日本マイクログラビティ応用学会誌. 2003, 20, 111
• TANNER, B. K. X-ray Diffraction Topography. 1976
• BOWEN, D. K. High Resolution X-ray Diffractometry and Topography. 1998
• AUTHIER, A. Dynamical Theory of X-Ray Diffraction. 2001
• TACHIBANA, M. Current Topics in Crystal Growth. 2002, 6, 35

タイトルに関連する用語 (4件)： X線トポグラフィ ,  進展 ,  タンパク質結晶 ,  X線