特許
J-GLOBAL ID：201203008221736879
電子写真用感光体の特性評価方法および特性評価装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
舘野 千惠子
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-248353
公開番号（公開出願番号）：特開2012-098659
出願日： 2010年11月05日
公開日（公表日）： 2012年05月24日
要約：
【課題】感光体の異常を精度良く検知すると共にその位置情報まで把握する事が可能な感光体の特性評価方法及び装置を提供する事。【解決手段】感光体の表面を帯電させる帯電工程と、前記感光体の表面電位を計測する工程と、前記感光体と前記帯電手段の離間距離を計測する工程と、前記感光体の周方向における複数位置について前記表面電位と前記離間距離の相関関係を表す関数を算出する工程と、前記複数位置夫々について前記関数から予め定められた所定の前記感光体と前記帯電手段の離間距離における所定離間距離帯電電位を算出する工程と、前記複数位置夫々について算出された前記所定離間距離帯電電位から、当該複数位置についての平均帯電電位を算出する工程と、前記複数位置夫々について前記所定離間距離帯電電位と前記平均帯電電位の電位差を求め、当該電位差が所定値を超えた前記感光体の周方向位置を欠陥位置として検出する工程を備えることを特徴とする。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
電子写真用感光体の表面を帯電手段により帯電させる帯電工程と、
帯電した前記電子写真用感光体の表面電位を表面電位計測手段により計測する表面電位計測工程と、
前記電子写真用感光体と前記帯電手段との離間距離を変位量計測手段により計測する変位量計測工程と、
前記電子写真用感光体の周方向における複数位置について、前記表面電位と前記離間距離との相関関係を表す関数を算出する関数算出工程と、
前記電子写真用感光体の周方向の複数位置それぞれについて、前記関数から、予め定められた所定の前記電子写真用感光体と前記帯電手段との離間距離における所定離間距離帯電電位を算出する所定離間距離帯電電位算出工程と、
前記電子写真用感光体の周方向の複数位置それぞれについて算出された前記所定離間距離帯電電位から、当該周方向の複数位置についての平均帯電電位を算出する平均帯電電位算出工程と、
前記電子写真用感光体の周方向の複数位置それぞれについて、前記所定離間距離帯電電位と前記平均帯電電位との電位差を求め、当該電位差が所定値を超えた前記電子写真用感光体の周方向の位置を欠陥位置として検出する欠陥位置検出工程と、を備えることを特徴とする電子写真用感光体の特性評価方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (1件)：
引用特許：
前のページに戻る
