特許
J-GLOBAL ID：201203014875936834

画像処理装置、画像処理装置の制御方法、距離計測装置、およびプログラム

発明者：
吉川 博志

吉川 博志 について


出願人/特許権者：
キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (6件)： 大塚 康徳 ,  高柳 司郎 ,  大塚 康弘 ,  木村 秀二 ,  下山 治 ,  永川 行光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-268365
公開番号（公開出願番号）：特開2012-141964
出願日： 2011年12月07日
公開日（公表日）： 2012年07月26日
要約：
【課題】パターン投影と簡便な画像処理で多重反射光領域の検出を行うことにより、多重反射によるノイズの影響を低減することを目的とする。【解決手段】投影部によりエピポーララインと略平行な方向のラインパターンが投影された撮像対象物を撮像する撮像部と、撮像された画像からラインの方向を算出するライン方向算出部と、ラインの方向と、投影部と撮像部との相対的な位置関係を示す幾何配置に基づいて決定されるエピポーラライン方向との角度差に基づいて多重反射光領域を検出する検出部と、を備える。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
投影手段によりエピポーララインと略平行な方向のラインパターンが投影された撮像対象物を撮像する撮像手段と、 前記撮像された画像からラインの方向を算出するライン方向算出手段と、
IPC (3件)：
G06T 1/00 ,  G01B 11/25 ,  G01B 11/00
FI (3件)：
G06T1/00 315 ,  G01B11/25 H ,  G01B11/00 H
Fターム (33件)：
2F065AA06 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065DD12 ,  2F065FF01 ,  2F065FF02 ,  2F065FF04 ,  2F065FF07 ,  2F065FF09 ,  2F065GG02 ,  2F065GG07 ,  2F065HH04 ,  2F065HH05 ,  2F065HH06 ,  2F065HH07 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL04 ,  2F065LL53 ,  2F065MM16 ,  2F065QQ16 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ29 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ33 ,  2F065QQ44 ,  5B057BA02 ,  5B057DA08 ,  5B057DB02 ,  5B057DB05 ,  5B057DB08 ,  5B057DC03 ,  5B057DC22
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (2件)

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